标准编号：GB/T 17444-2013
代替以下标准：GB/T 17444-1998
中文名称：红外焦平面阵列参数测试方法
英文名称：Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
发布日期：2013-11-12
实施日期：2014-04-15
归口单位：工业和信息化部（电子）
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
起草人
丁瑞军、梁平治、曹妩媚、殷建军、唐红兰、陈洪雷
起草单位
中国科学院上海技术物理研究所
标准范围
本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。
本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。
本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。
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