GB/T 44937.8-2025 集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 IC带状线法

标准编号：GB/T 44937.8-2025

中文名称：集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 IC带状线法

英文名称：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 8: Measurement of radiated emissions—IC stripeline method

发布日期：2025-12-31

实施日期：2026-07-01

提出单位：工业和信息化部（电子）

归口单位：全国集成电路标准化技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部（电子）

起草人

付君、崔强、乔磊、王新才、徐蛟、叶畅、褚瑞、黄雪梅、龙发明、吴倩、臧琦、王紫任、江峰、楼建全、焦璨、刘佳、靳冬、吴建飞、方文啸、朱赛、梁吉明、李楠、郑益民、陈梅双、王晓迪、刘星汛、李彦鹏、冯星辉、赖秋辉、连恒兴、邓勇、鞠文静

起草单位

中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、浙江诺益科技有限公司、中山大学、上海机动车检测认证技术研究中心有限公司、天津大学、长沙芯连心智慧系统有限责任公司、广州广电计量检测（上海）有限公司、福州物联网开放实验室有限公司、中家院（北京）检测认证有限公司、亚锐檀桐检测技术（上海）有限公司、天津先进技术研究院、海研芯（青岛）微电子有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、北京无线电计量测试研究所、中国信息通信研究院、河南省电子信息产品质量检验技术研究院、思科系统（中国）研发有限公司、北京中电华大电子设计有限责任公司、中国合格评定国家认可中心、国网电力科学研究院有限公司

标准范围

本文件描述了使用带状线测量集成电路（IC）电磁辐射发射的方法。被评估IC安装在IC带状线结构的有效导体和地平面之间的EMC试验板（PCB）上。

标准预览图