GB/T 44937.6-2025 集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法

标准编号：GB/T 44937.6-2025

中文名称：集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法

英文名称：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 6: Measurement of conducted emissions—Magnetic probe method

发布日期：2025-12-31

实施日期：2026-07-01

提出单位：工业和信息化部（电子）

归口单位：全国集成电路标准化技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部（电子）

起草人

付君、崔强、吴建飞、朱赛、叶畅、高杰、雷黎丽、梁吉明、张洁、王少启、周香、黄雪梅、薛树成、胡光亮、万发雨、方文啸、邵伟恒、魏兴昌、刘超、李金龙、龙发明、钟嘉强、王健伟、吕飞燕、臧琦、刘佳、杨统乾、陸振璘

起草单位

中国电子技术标准化研究院、天津先进技术研究院、厦门海诺达科学仪器有限公司、上海市计量测试技术研究院、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、健研检测集团有限公司、北京中电华大电子设计有限责任公司、南京信息工程大学、联想(北京)有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、中国合格评定国家认可中心、上海雷卯电子科技有限公司、深圳市品声科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、浙江大学、中山大学、深圳市中兴微电子技术有限公司、中汽研新能源汽车检验中心（天津）有限公司、安徽省计量科学研究院、中国民航大学、东南大学、中国信息通信研究院、豪威北方集成电路有限公司、中家院（北京）检测认证有限公司

标准范围

本文件描述了使用微型磁场探头以非接触式的电流测量来评估集成电路（IC）引脚射频（RF）电流的方法。

该方法测量IC在150 kHz～1 GHz频率范围内产生的RF电流，适用于标准试验板上的单个或一组IC的测量，以用来表征和对比IC的RF电流。该方法也用于评估实际使用的印制电路板（PCB）上的单个或一组IC的电磁特性以减小发射。该方法称为“磁场探头法”。

标准预览图