GB/T 44937.1-2025 集成电路 电磁发射测量 第1部分：通用条件和定义

标准编号：GB/T 44937.1-2025

中文名称：集成电路 电磁发射测量 第1部分：通用条件和定义

英文名称：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 1: General conditions and definitions

发布日期：2025-12-31

实施日期：2026-07-01

提出单位：工业和信息化部（电子）

归口单位：全国集成电路标准化技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部（电子）

起草人

崔强、付君、张红丽、朱赛、徐蛟、原义栋、康志能、陈勇志、孙莉、王紫任、黄利、周沛、王飞、郑云、向晓东、方海峰、李齐、邢立文、方文啸、叶畅、张艳艳、李焕然、邵鄂、李晓智、刘佳、刘璟轩、杜永亿、谢萱萱、尹向阳、冯鸣、黄发刚

起草单位

中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、广州致远电子股份有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国汽车工程研究院股份有限公司、中国信息通信研究院、中国合格评定国家认可中心、长沙汽车电器检测中心有限责任公司、深圳市立高通科技有限公司、奇瑞新能源汽车股份有限公司、广州金升阳科技有限公司、四川永贵科技有限公司、茵诺特斯科技（重庆）有限公司、南京容向测试设备有限公司、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、天津先进技术研究院、中山大学、中国家用电器研究院、中国科学院空间应用工程与技术中心、天津大学、中家院（北京）检测认证有限公司、重庆赛力斯新能源汽车设计院有限公司、安波福电气系统有限公司、浙江宏禧科技有限公司、广东源泉科技有限公司、苏州瑞可达连接系统股份有限公司

标准范围

本文件提供了集成电路的传导和辐射电磁发射测量的通用信息和定义，同时也给出了试验条件、试验设备、试验布置、试验程序和试验报告内容的描述。附录A中给出了试验方法的对照表，以帮助选择适当的测量方法。

本文件的目的是描述通用条件，建立一个统一的测试环境以定量测量来自集成电路(IC)的射频(RF)骚扰。本文件描述了影响试验结果的关键参数。若与本文件的描述有所偏离，需在试验报告中明确注明。测量结果能用于产品比较或其他用途。

通过对受控条件下IC产生的辐射射频骚扰或传导射频发射的电压和电流的测量，获得IC应用过程中可能产生的射频骚扰信息。

IEC 61967的每个部分规定了所适用的频率范围。

标准预览图