GB/Z 117.101-2026 光伏组件 电势诱导衰减测试方法 第1-1部分：晶体硅组件 分层

标准编号：GB/Z 117.101-2026

中文名称：光伏组件 电势诱导衰减测试方法 第1-1部分：晶体硅组件 分层

英文名称：Photovoltaic modules—Test methods for the detection of potential-induced degradation—Part 1-1: Crystalline silicon—Delamination

发布日期：2026-01-04

提出单位：工业和信息化部（电子）

归口单位：全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部（电子）

起草人

刘斌、龚海丹、李其聪、庄天奇、李宁、李学健、唐应堂、屈小勇、任改改、王永丰、谢小军、李冬梅、胡晶、柯源

起草单位

隆基乐叶光伏科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、中海油研究总院有限责任公司、英利能源发展有限公司、赫里欧新能源有限公司、国家电投集团黄河上游水电开发有限责任公司西宁分公司、江苏隆基乐叶光伏科技有限公司、西安热工研究院有限公司、晶科能源（海宁）有限公司、无锡市检验检测认证研究院、阿特斯阳光电力集团股份有限公司

标准范围

本文件描述了单玻或双玻晶体硅光伏组件层压件部分电势诱导衰减引起的分层(PID-d)失效现象的测试和评估方法，用于评估因接地和组件电池电路之间的电流传输而引起的分层。本文件测试方法中加速导致分层的影响因素包括湿热暴露、界面上的钠积累、电池电路中的阴极气体析出、金属化以及组件中其他部件因电压刺激而导致的黏附性降低，不包括应力因素导致的晶体硅光伏组件功率变化(该内容在IEC TS 62804-1的范围)。

本文件规定的测试方法是在湿热环境箱中对组件进行测试，并在组件两极施加组件说明书中规定或允许的最大系统电压。组件对系统电压应力的实际耐久性取决于安装设计和组件运行的环境条件，本测试方法是在不考虑不同气候和系统条件下组件运行时承受的实际应力的前提下评估光伏组件层压件对PID-d的敏感性。

本文件不适用于区分某些可能在不同程度上对组件表面进行电气隔离的抑制PID的工程方法的影响，比如使用后轨支架安装、边缘夹具夹持安装和绝缘边框等。

标准预览图