GB/T 22319.8-2025 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具

标准编号：GB/T 22319.8-2025

代替以下标准：GB/T 22319.8-2008

中文名称：石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具

英文名称：Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units

发布日期：2025-12-31

实施日期：2026-07-01

提出单位：工业和信息化部（电子）

归口单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部（电子）

起草人

杨铁生、宫桂英、孙晓明、高志祥

起草单位

唐山国芯晶源电子有限公司、泰晶科技股份有限公司、北京晨晶电子有限公司、南京中电熊猫晶体科技有限公司

标准范围

本文件规定了适用于IEC 61837（所有部分）定义的无引线表面贴装石英晶体元件的测量夹具。这些测量夹具按照IEC 60444-5规定的测量技术，测量（串联）谐振频率、（串联）谐振电阻和等效电路参数L、C和 C，负载谐振频率和负载谐振电阻是在 IEC 60444-4 和 IEC 60444-11中确定的。

本文件规定了两种测量装置。

a）采用 IEC 60444-1的 π 网络零相位技术，频率达500 MHz的传输法测量夹具。该夹具包括可选的方法，加载物理负载电容，测量负载谐振参数的频率达 30 MHz。根据 IEC 60444-4，负载电容为 10 pF 或更高，本文件还规定了测量系统和 C_L片的校准。

b）基于反射法测量技术，频率范围达1 200 MHz 的测量夹具。不加载物理负载电容。其负载谐振参数是用IEC 60444-11的方法测量的。

标准预览图