标准编号：GB/T 42968.9-2025
中文名称：集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法
英文名称：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 9: Measurement of radiated immunity—Surface scan method
发布日期：2025-12-02
实施日期：2025-12-02
提出单位：工业和信息化部
归口单位：全国集成电路标准化技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
起草人
付君、程江河、杨红波、吴建飞、李焕然、邵鄂、廉鹏飞、亓新、李齐、李燕、谭泽强、高新杰、王晓迪、伍强、陈梅双、崔强、方文啸、孙云龙、梁吉明、邢琳、张艳艳、阎照文、刘佳、杨志奇、李博、弓兆博
起草单位
中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、上海电器设备检测所有限公司、华东师范大学、北京航空航天大学、中国计量大学、深圳市恒创技术有限公司、中山大学、河南省电子信息产品质量检验技术研究院、上海机动车检测认证技术研究中心有限公司、扬芯科技（深圳）有限公司、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、厦门市产品质量监督检验院、中国家用电器研究院、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、中国合格评定国家认可中心、中国汽车工程研究院股份有限公司、北京高搏电磁兼容技术有限公司、中家院（北京）检测认证有限公司、重庆赛力斯新能源汽车设计院有限公司
标准范围
本文件描述了评估近电场、近磁场或近电磁场分量对集成电路（IC）影响的测量方法。本测量方法旨在用于IC的架构分析，例如平面规划和配电优化。本测量方法也可用于测量扫描探头能够靠近的、安装在任何电路板上的IC。某些情况下，本测量方法不仅可扫描IC，还可扫描IC的环境。为了对比不同IC的表面扫描抗扰度，宜使用IEC 62132-1规定的标准试验板。
本测量方法提供了IC对其上方的电场或磁场近场骚扰的敏感度（抗扰度）图。测量探头的性能和探头定位系统的精度决定了测量的分辨率。本方法预期使用的最高频率为6 GHz。使用现有探头技术可扩展上限频率范围，但这超出了本文件的范围。本测量方法使用连续波(CW)、幅度调制(AM)或脉冲调制(PM)信号在频域进行。
标准预览图
立即下载标准文件