标准编号：T/BDT 002-2024
中文名称：射频前端器件及模组测试设备
英文名称：Radio frequency front-end devices and modules test equipment
发布日期：2024-10-09
实施日期：2024-10-10
团体名称：中国半导体行业协会
起草人
胡信伟;李翔;侯林;张宇;孙文彬;刘伟;汪桃红;相宇阳;汤琦;周燕;张宏达;何睿;缪峰;顾宝龙
起草单位
南京派格测控科技有限公司;南京国博电子股份有限公司;无锡卓海科技股份有限公司;宏晶微电子科技股份有限公司;无锡邑文微电子科技股份有限公司;成都市易冲半导体有限公司;弥费科技（上海）股份有限公司;江苏宝浦莱半导体有限公司;深圳前沿标准技术服务有限公司
标准范围
本文件规定了射频前端器件及模组测试设备的产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。
本文件适用于射频前端器件及模组测试设备的设计、制造和检验。
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