标准编号：GB/T 45768-2025
中文名称：表面化学分析 二次离子质谱 单离子计数飞行时间质谱分析器的强度标线性
英文名称：Surface chemical analysis—Secondary ion mass spectrometry—Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
发布日期：2025-06-30
实施日期：2026-01-01
提出单位：全国表面化学分析标准化技术委员会
归口单位：全国表面化学分析标准化技术委员会
批准发布部门：中国科学院
起草人
谢方艳、杨慕紫、孟令杰、周国庆、陈建、李展平、梁艳
起草单位
中山大学、西安交通大学、清华大学
标准范围
本文件描述了在单离子计数飞行时间二次离子质谱仪中，通过测量基于聚四氟乙烯（PTFE）质谱中的同位素比值，从而确定强度标线性偏差可接受限的最大计数率的方法。本文件还包括校正强度非线性的方法，强度的非线性是由在死时间内到达微通道板（MCP）或闪烁体和光电倍增器随后进入时间-数字转换器（TDC）的二次离子强度损失引起的。该校正可将95%线性的强度范围增加到50倍以上，因此对于那些已证实相关校正公式有效的质谱仪，可以采用更高的最大计数率。
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