国家计量技术规范(JJF)

本规范规定了10kHz~100MHz频段的电磁场探头（含电场探头、磁场探头，简称场探头）的校准方法，适用于电磁兼容检测等领域中使用的场探头的校准。其他类型的场探头（除天线外）亦可参考使用。

本规范适用于阻抗管吸声标准试样的校准。

本规范规定了额定频率50Hz、额定电压3.6kV~40.5kV交流开关设备（以下简称开关设备）能效计量测试方法和测试报告等内容。本规范适用于开关设备主回路、操动机构的能效计量测试，不包括加热器、风机

本规范适用于能接收（0~120）V、（0~6）A工频模拟信号的互感器合并单元的标准。

本规范适用于电容型绝缘结构的高压电气设备在线监测装置（以下简称“监测装置”）的校准。

本规范适用于2kHz~30kHz频率范围内使用的水声材料声学性能脉冲管测量系统的校准。

高锰酸盐指数在线自动监测仪（以下简称仪器）可自动连续监测地表水、地下水和生活饮用水等水体中高锰酸盐指数。仪器采用氧化的原理，在水样中加人已知量的高锰酸钾溶液，在加热条件下氧化水样中的有机物和还原性无

本规范适用于医用硬拷贝照相机（也称“医用胶片打印机”）的校准，包括干式激光相机和热敏胶片打印机。

氯化氢气体检测报警器（以下简称仪器）主要用于检测作业场所环境中氯化氢气体的浓度。仪器的检测原理主要有电化学原理和半导体原理等。仪器主要由检测单元、信号处理单元、报警单元和显示单元等部分组成。当仪器显

本规范适用于频率范围10MHz~18GHz电场探头的校准。

肌电及诱发反应设备包括肌电图设备和诱发反应设备，本规范适用于肌电及诱发反应设备（仅限电刺激部分）的校准。

本规范适用于半导体器件直流和低频参数测试设备的校准。半导体器件直流和低频参数测试设备 (以下简称被校设备)由偏置电压源、偏置电流源、电压测量单元、电流测量单元、低频信号源等组成，主要用于各类半导体器

本规范适用于半导体管特性图示仪校准仪的校准。半导体管特性图示仪校准仪(以下简称图示仪校准仪)是通过提供标准电压源、标准电流源等标准信号对半导体管特性图示仪进行校准的专用校准仪器。目前主要有两种类型：

本规范适用于符合CISPR16-1-6:2014、ANSI C63.5—2006和SAE ARP958D—2003要求的电磁兼容测试用喇叭天线的校准，频率范围为0.2GHz~40GHz，其他喇叭天线

本规范适用于对气腹机的计量特性的校准。

本规范适用于连续供氧的小型医用分子筛制氧机的计量特性的校准，不适用于通过带管道的医用气体装置向若干个患者供气的医用分子筛制氧系统，也不适用于易燃麻醉气体或清洗剂条件下使用的医用分子筛制氧机。

本规范适用于直线度测量仪的校准。

为了使计量器具软件的测评结果具有可评估性，应采用相对公平一致的计量器具软件测评方法和符合各专业技术要求的水平分类原则。本规范规定了计量器具法制相关软件功能性和测量结果的真实可靠的应用要求，并给出了验

本规范适用于测量范围为0.1 mWb ~ 10 Wb，最大允许误差为士（0.1%~5.0%）的磁通计的校准。

本规范适用于10kHz频率范围内，实现最大绝对加速度冲击响应谱的冲击响应谱试验机的校准。

本规范适用于停车场电子计时装置检定仪的校准。

本规范规定了在 200MHz ~ 18GHz 的频率范围内，对符合GB/T 17626.21-2014 [IEC 61000-4-21]定义的电磁混响室（简称混响室，也称混波室）空间场强特性的评价方

本规范适用于刻线宽度为0.3μm 及以上一维或二维显微标尺的校准。

本规范适用于扫描电子显微镜的校准。

本导则适用于编写计量器具型式评价大纲。

本规则对定量包装商品净含量实施计量检验过程中的抽样、检验及评价等方面进行了规范。本规则适用于对定量包装商品净含量的计量监督检验。

本规则适用于编写国家计量检定规程(以下简称规程)。编写部门计量检定规程和地方计量检定规程可参照使用。

本导则适用于编写计量器具型式评价大纲。

本规范规定了计量器具检定周期确定的基本原则和方法。本规范适用于制定或修订计量检定规程时对所适用计量器具检定周期的确定，同时也可作为在用计量器具检定时间间隔的调整与在用计量器具校准时间间隔确认的参考。

本规范适用于测量分散于液体介质中固体颗粒粒径大小及分布的静态光散射原理的激光粒度分析仅(以下简称仪器)的校准。