标准编号：ISO 17470:2004
中文名称：微束分析 电子探测器微量分析-用波长分散X光 光谱分析法作定性点分析的指南
英文名称：Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
发布日期：2004-09
ISO 17470:2004 微束分析 电子探测器微量分析-用波长分散X光 光谱分析法作定性点分析的指南
立即下载标准文件大家都在看
- ISO 13459:1997 挖土机 翻斗车 教员座位/附件.
- ISO 7299-1:2007 柴油发动机 泵用端面安装法兰 第1部分：燃油喷射泵
- ISO/IEC 15444-9:2005 信息技术.JPEG 2000图像编码系统.交互工具、应用程序接口和协议
- ISO 11631:1998 液流量的测量 规范流量计特性法.
- ISO 15534-2:2000 机械安全的人类工效学设计.第二部分：进出口尺寸的测定原理.
- ISO 9022-23:2013 光学和光子学 环境试验方法 第23部分：寒冷环境温度、干热和湿热条件下的低压
- ISO/IEC TR 16166:2010 信息技术 系统间的通信和信息交换 下一代企业网（NGCN） 基于会话通信的安全性
- ISO 8243:2013 卷烟 取样
- ISO 3165:1976 工业用化学制品取样.取样的安全性
- ISO/TR 10064-5:2005 圆柱齿轮 检验的规范-第5部分：齿轮测量工具评估相关的建议