ISO 23830:2008 表面化学分析二次离子质谱法静态二次离子质谱法中相对强度标度的重现性和恒定性

标准编号：ISO 23830:2008

中文名称：表面化学分析二次离子质谱法静态二次离子质谱法中相对强度标度的重现性和恒定性

英文名称：Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry