GB/T 43088-2023 微束分析分析电子显微术金属薄晶体试样中位错密度的测定方法

标准编号：GB/T 43088-2023

中文名称：微束分析分析电子显微术金属薄晶体试样中位错密度的测定方法

英文名称：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Measurement of the dislocation density in thin metals

发布日期：2023-09-07

实施日期：2024-04-01

提出单位：全国微束分析标准化技术委员会

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

批准发布部门：国家标准化管理委员会

起草人

孟杨、鞠新华、马通达、崔桂彬、王泽鹏、王雅晴、朱国森、付新、史学星、闫贺、严春莲

首钢集团有限公司、国标（北京）检验认证有限公司

本文件规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。

本文件适用于测定晶粒内不高于1X10¹⁵m^-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。