SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

标准编号：SJ/T 11394-2009

代替以下标准：SJ/T 2355.1～2355.7-1983

中文名称：半导体发光二极管测试方法

发布日期：2009-11-17

实施日期：2010-01-01

归口单位：中国电子技术标准化研究所

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

鲍超

起草单位

中国光学光电子行业协会光电器件分会

标准范围

主要规定了半导体发光二极管电特性测试方法、光特性测试方法、光电特性测试方法、颜色特性测试方法、热学特性测试方法和静电放电敏感性测试方法等。

标准预览图