标准编号：GB/T 27788-2020
代替以下标准：GB/T 27788-2011
中文名称：微束分析 扫描电镜 图像放大倍率校准导则
英文名称：Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification
发布日期：2020-06-02
实施日期：2021-04-01
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
批准发布部门：国家标准化管理委员会
起草人
陈振宇、周剑雄、李香庭、杨勇骥
起草单位
中国地质科学院矿产资源研究所、中国人民解放军海军军医大学、中国科学院上海硅酸盐研究所
标准范围
本标准规定了使用适当的参考物质对扫描电镜（SEM）图像的放大倍率进行校准的方法。
本标准适用于对由校准参考物质上间距大小的可用范围决定的放大倍率进行校准。
本标准不适用于专用测长型扫描电镜。
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