标准编号：GB/T 35006-2018
中文名称：半导体集成电路 电平转换器测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
起草人
宦承永、邬海忠、王小强、罗彬、陆坚、魏军
起草单位
深圳市国微电子有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所、成都振芯科技股份有限公司
标准范围
本标准规定了半导体集成电路电平转换器（以下称为器件）功能、静态参数和动态参数的测试方法。
本标准适用于半导体集成电路电平转换器功能、静态参数和动态参数的测试。
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