标准编号：GB/T 5201-2012
代替以下标准：GB/T 5201-1994
中文名称：带电粒子半导体探测器测量方法
英文名称：Test procedures for semiconductor charged particle detectors
发布日期：2012-06-29
实施日期：2012-11-01
归口单位：全国核仪器仪表标准化技术委员会
批准发布部门：国家标准化管理委员会
起草人
李志勇、王军
起草单位
中核（北京）核仪器厂
标准范围
本标准规定了带电粒子半导体操测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。 本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体操测器。 全耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行。
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