标准编号：GB/T 25185-2010
中文名称：表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告
英文名称：Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction
发布日期：2010-09-26
实施日期：2011-08-01
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
批准发布部门：国家标准化管理委员会
起草人
吴正龙
起草单位
北京师范大学分析测试中心
标准范围
本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能，及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法，也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。
标准预览图
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