标准编号：GB/T 25186-2010
中文名称：表面化学分析 二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子
英文名称：Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
发布日期：2010-09-26
实施日期：2011-08-01
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
批准发布部门：国家标准化管理委员会
起草人
马农农、何友琴、何秀坤
起草单位
信息产业部专用材料质量监督检验中心
标准范围
本标准指定了一种由离子注入参考物质确定二次离子质谱分析中相对灵敏度因子的方法。 本标准适用于基体化学成分单一的样品，其中注入物质的峰值原子浓度不超过1％。
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