标准编号：GB/T 4060-2007
代替以下标准：GB/T 4060-1983
中文名称：硅多晶真空区熔基硼检验方法
英文名称：Polycrystalline silicon - examination method - vacuum zone - melting on boron
发布日期：2007-09-11
实施日期：2008-02-01
归口单位：中国有色金属工业协会
批准发布部门：中国有色金属工业协会
起草单位
峨眉半导体材料厂
标准范围
本标准适用于多晶硅沉积在硅芯上生长的多晶硅棒基硼的检验。本标准检测杂质浓度有效范围：0．002 X 10-9～100X 10-9。
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