标准编号:GB/T 5252-2006
代替以下标准:GB/T 5252-1985
中文名称:锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
英文名称:Germanium monocrystal - inspection of dislocation etch pit density
发布日期:2006-07-18
实施日期:2006-11-01
归口单位:中国有色金属工业协会
批准发布部门:中国有色金属工业协会
起草人
余怀之、刘建平
起草单位
北京有色金属研究总院
标准范围
本标准适用于位错密度0cm-2~100 0000cm-2的n型和p型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量.观察面为(111)(100)(113)面。