标准编号：GB/T 15651.3-2003
中文名称：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
英文名称：Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods
发布日期：2003-11-24
实施日期：2004-08-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
起草单位
华禹光谷股份有限公司半导体厂
标准范围
本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。
立即下载标准文件