GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

标准编号：GB/T 11685-2003

代替以下标准：GB/T 11685-1989、GB/T 8992-1988

中文名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

英文名称：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers

发布日期：2003-07-07

实施日期：2004-01-01

归口单位：全国核仪器仪表标准化技术委员会

批准发布部门：国家标准化管理委员会

起草单位

核工业标准化研究所

本标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的测量方法。本标准适用于半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要性能的测量。