标准编号：GB/T 1555-1997
中文名称：半导体单晶晶向测定方法
英文名称：Test methods for determining the orientation ofa semiconductor single crystal
发布日期：1997-12-22
实施日期：1998-08-01
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
批准发布部门：国家标准化管理委员会
起草单位
峨嵋半导体材料厂
GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
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