标准编号：GB/T 1553-1997
中文名称：硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
英文名称：Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
发布日期：1997-06-03
实施日期：1997-12-01
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
批准发布部门：国家标准化管理委员会
起草单位
峨嵋半导体材料厂
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