标准编号：GB/T 4058-1995
中文名称：硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
英文名称：Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers
发布日期：1995-04-18
实施日期：1995-12-01
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
批准发布部门：国家标准化管理委员会
起草单位
峨嵋半导体材料厂
GB/T 4058-1995 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
立即下载标准文件大家都在看
- GB/T 1554-1995 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
- GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
- GB/T 1817-1995 硬质合金常温冲击韧性试验方法
- GB/T 6396-1995 复合钢板力学及工艺性能试验方法
- GB/T 351-1995 金属材料电阻系数测量方法
- GB/T 1234-1995 高电阻电热合金
- GB/T 15547-1995 锻钢冷轧辊辊坯
- GB/T 15527-1995 船用全球定位系统(GPS)接收机通用技术条件
- GB/T 7095.1-1995 漆包扁绕组线 第1部分 一般规定
- GB/T 5170.1-1995 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 总则