标准编号：GB/T 5201-1994
中文名称：带电粒子半导体探测器测试方法
英文名称：Test procedures for semiconductor chargedparticle detectors
发布日期：1994-12-22
实施日期：1995-10-01
归口单位：全国核仪器仪表标准化技术委员会
批准发布部门：国家标准化管理委员会
起草单位
北京核仪器厂
标准范围
本标准规定了带电粒子半导体探测器电特性和核辐射性能的测试方法以及某些特殊环境的试验方法。本标准适用于探测带电粒子的部分耗尽金硅面垒型、锂漂移金硅面垒型和表面钝化离子注入平面硅型等半导体探测器。
立即下载标准文件