标准编号：GB/T 14115-1993
中文名称：半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
英文名称：General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
发布日期：1993-01-21
实施日期：1993-08-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
起草单位
上海元件五厂
标准范围
本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器（以下简称器件）电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。
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