标准编号：GB/T 12843-1991
中文名称：半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
英文名称：Generalprinciple of measuring methods of microprocessors and peripheral interface circuits’ parameters for semiconductor integrated circuits
发布日期：1991-04-28
实施日期：1991-12-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
起草单位
北京机械自动化所
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