GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法

标准编号：GB/T 12636-1990

中文名称：微波介质基片复介电常数带状线测试方法

英文名称：Stripline test method for complexpermittivity of microwave dielectric substrates

发布日期：1990-12-28

实施日期：1991-10-01

归口单位：工业和信息化部（电子）

批准发布部门：工业和信息化部（电子）

起草单位

电子科技大学

标准范围

本标准规定了微波介质基片复介电常数的带状线测试方法。本标准适用于测试各种基片（如塑料、复合材料、陶瓷、硅酸盐和其他单晶体材料等）在微波频率下的复介电常数。测试频率范围：f=1～20GHz测试介电常数范围：ε＇＝2～25测试损耗角正切范围：tanδ<下标e>＝5×10<上标-4>～1×10<上标-2>

标准预览图