标准编号：GB/T 11073-1989
中文名称：硅片径向电阻率变化的测量方法
英文名称：Standard method for measuring radial resistivity variation on silicon slices
发布日期：1989-03-31
实施日期：1990-02-01
归口单位：中国有色金属工业协会
批准发布部门：中国有色金属工业协会
起草单位
峨嵋半导体材料研究所
GB/T 11073-1989 硅片径向电阻率变化的测量方法
立即下载标准文件大家都在看
- GB/T 11081-1989 白色油紫外吸光度测定法
- GB/T 11278-1989 阴离子和非离子表面活性剂 临界胶束浓度的测定 圆环测定表面张力法
- GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则
- GB/T 11210-1989 硫化橡胶抗静电和导电制品电阻的测定
- GB/T 10675-1989 液压挖掘机 可靠性试验方法
- GB 10681-1989 普通照明灯泡
- GB/T 10749-1989 船用铜管折边松套钢法兰 (四进位)
- GB/T 11200.1-1989 离子交换膜法氢氧化钠中氯酸钠含量的测定 邻-联甲苯胺分光光度法
- GB/T 11305-1989 电子设备用固定电容器 分规范:3 类瓷介电容器 (可供认证用)
- GB/T 11213.4-1989 化纤用氢氧化钠中硅含量的测定 还原硅钼酸盐分光光度法