标准编号:GB/Z 276-2026

中文名称:光电计算 光脉冲神经元性能测试方法

英文名称:Optoelectronic computing—Performance testing method for photonic spiking neurons

发布日期:2026-09-24

实施日期:2026-09-24

提出单位:全国智能计算标准化工作组

归口单位:全国智能计算标准化工作组

批准发布部门:国家标准委

起草人

项水英、张萌、李振廷、冯宇祥、董建绩、周治平、张力月、李念强、田野、张强、杨毅、郭良帅、虞绍良、张雅慧、郭星星、王忠新、于山山、李强、江宁、施跃春、黄于、方英俊

起草单位

西安电子科技大学、北京航天计量测试技术研究所、杭州爱杰光电科技有限公司、联合微电子中心有限责任公司、苏州大学、甬江实验室、中移(苏州)软件技术有限公司、之江实验室、华中科技大学、上海曦智科技股份有限公司、西南交通大学、电子科技大学、南通奇波科技有限公司

标准范围

本文件给出了光脉冲神经元的测试系统和测试环境,描述了光脉冲神经元的兴奋性阈值、时域累积和不应期特性的测试方法。

本文件适用于采用半导体材料研制的光脉冲神经元(以下简称“神经元”)性能测试。

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