GB/Z 41270.5-2026 航空电子过程管理 大气辐射影响 第5部分：航空电子系统中热中子注量率及其单粒子效应影响评估

标准编号：GB/Z 41270.5-2026

中文名称：航空电子过程管理 大气辐射影响 第5部分：航空电子系统中热中子注量率及其单粒子效应影响评估

英文名称：Process management for avionics—Atmospheric radiation effects—Part 5：Assessment of thermal neutron fluxes and single event effects in avionics systems

发布日期：2026-09-24

实施日期：2026-09-24

提出单位：国家标准委

归口单位：全国航空电子过程管理标准化技术委员会

批准发布部门：国家标准委

起草人

谢洋、吕冰、孟恩丞、刘亚云、张战刚、任海涛、陈启明、张晓蕾、翟宁、刘站平、彭超

起草单位

中国航空工业集团公司雷华电子技术研究所、中国航空综合技术研究所、哈尔滨工业大学、中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所、工业和信息化部电子第五研究所

标准范围

本文件给出了大气中子辐射诱发单粒子翻转(SEU)的另外一种机制，热中子对航空电子系统构成的威胁。

本文件适用于评估有关测量飞机内部热中子注量率，包括两个主要内容：a)对飞机内热中子注量率测量的现有文献进行详细评述；b)对目前可用的静态随机存取存储器(SRAM)器件中热中子单粒子翻转截面进行更全面的汇总。

针对这两组不同数据的论证结果，得出两个对热中子注量率及其单粒子效应影响的评估非常重要的比率。这两个比率用于最终确定相对于高能中子(能量>10 MeV)，热中子诱发的单粒子翻转的威胁程度。高能中子诱发的单粒子翻转的威胁已在文献中广泛论述，主要参考两项标准(航空电子领域的GB/T 34956—2017和微电子领域地面应用的JESD89A[1])。当器件特征尺寸小于150 nm时，需考虑能量>1 MeV的中子范围的中子。

标准预览图