GB/Z 41270.8-2026 航空电子过程管理 大气辐射影响 第8部分：对航空电子产品中质子、电子、π介子、μ子、α射线注量率导致单粒子效应的考虑

标准编号：GB/Z 41270.8-2026

中文名称：航空电子过程管理 大气辐射影响 第8部分：对航空电子产品中质子、电子、π介子、μ子、α射线注量率导致单粒子效应的考虑

英文名称：Process management for avionics—Atmospheric radiation effects—Part 8：Proton, electron, pion, muon, alpha-ray fluxes and single event effects in avionics electronic equipment awareness guidelines

发布日期：2026-09-24

实施日期：2026-09-24

提出单位：全国航空电子过程管理标准化技术委员会

归口单位：全国航空电子过程管理标准化技术委员会

批准发布部门：国家标准委

起草人

宋杨、孟恩丞、李钧、梁天骄、周方元、熊威、莫莉华、任海涛

起草单位

中国商用飞机有限责任公司上海飞机设计研究院、中国科学院高能物理研究所、中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所、中国航空综合技术研究所

标准范围

本文件旨在提供关于小粒子(即质子、电子、π介子和μ子注量率)影响和单粒子效应对到18.3 km(60000英尺)高度范围内飞行的飞机上使用的航空电子设备的影响的认识和指导。这是一个新兴的研究方向，缺乏实质性的数据支持。本文件旨在帮助航空航天或地面电子设备设计者和制造商，为这一新兴的研究方向提供认识和指导。

本文件提供了辐射环境的详细信息，介绍了由于受到大气辐射而引起的潜在问题，并给出了电子器件中单粒子效应(SEE)率评估的推荐的定量方法。

本文件适用于航空电子工业领域，其他工业领域参考使用。

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