标准编号：JJG 889-1995
中文名称：磁阻法测厚仪检定规程
英文名称：Verification Regulation of Magnetic Resistance Thiness Gauge
发布日期：1995-02-08
实施日期：1995-05-01
归口单位：天津市技术监督局
起草人
王心航（天津市计量技术研究所）;孟继恒（天津市计量技术研究所）;李珥（天津市技术监督局实验工厂）
起草单位
天津市计量技术研究所
标准范围
磁阻法测厚仪一般用于铁磁基体上非磁性涂层和镀层厚度的测量。其原理是：当仪器测头与被测涂层或镀层接触时，测头即与磁性基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆层的存在，使磁路磁阻增加，磁阻的变化随着被测覆层厚度的大小而变化，仪器能过对磁阻大小的测量，由表头或显示器指示出被测覆层的厚度。
本规程适用于新制造、使用中和修理后的磁阻法测厚仪的检定。
标准预览图
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