标准编号：GB/T 4937.44-2025
中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法
英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
发布日期：2025-12-02
实施日期：2026-07-01
提出单位：工业和信息化部（电子）
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
起草人
何玉娟、张战刚、彭超、席善斌、何小琦、李强、曹宏建、杨少华、恩云飞、雷志锋、来萍、黄云、常江、张晓全
起草单位
工业和信息化部电子第五研究所、广州盟标质量检测技术服务有限公司、广微（中山）智能科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、吉林华微电子股份有限公司
标准范围
本文件描述了一种测量高密度集成电路单粒子效应(SEE)的试验方法，包括带存储的半导体器件在受到宇宙射线产生的大气中子辐照时的数据保持能力。通过已知注量率的中子辐照测量得到半导体器件的单粒子效应敏感性。该试验方法适用于任何种类集成电路。
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