标准编号：GB/T 17722-2026
代替以下标准：GB/T 17722-1999
中文名称：微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
英文名称：Microbeam analysis—Method for thickness measurement on goldcoating layer by SEM
发布日期：2026-01-28
实施日期：2026-08-01
提出单位：全国微束分析标准化技术委员会
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
批准发布部门：国家标准委
起草人
娄艳芝、柳得橹、周剑雄、王岩华、陈振宇
起草单位
中国航发北京航空材料研究院、中国科学院化学研究所、北京科技大学、中国地质科学院矿产资源研究所
标准范围
本文件描述了用扫描电镜测量各类金制品中金覆盖层厚度的方法。
本文件适用于25 nm~50μm 的金覆盖层厚度的测定。其他厚度金覆盖层的测量参照执行。
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