标准编号：GB/T 4937.8-2025
中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分：密封
英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 8：Sealing
发布日期：2025-12-31
实施日期：2026-07-01
提出单位：工业和信息化部（电子）
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
起草人
罗晓羽、孙明、薛冬英、程文娟、甘鑫涛、胡朝阳
起草单位
中国电子技术标准化研究院、苏州海光芯创光电科技股份有限公司、青岛金汇源电子有限公司、江苏韩电电器有限公司、阿母芯微电子技术（中山）有限公司
标准范围
本文件适用于半导体器件(分立器件和集成电路)。
本试验方法的目的是检测半导体器件的漏率。
标准预览图
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