标准编号：GB/T 4937.24-2025
中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分：加速耐湿 无偏置强加速应力试验
英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 24: Accelerated moisture resistance—Unbiased HAST
发布日期：2025-12-02
实施日期：2026-07-01
提出单位：工业和信息化部
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
起草人
包雷、佘茜玮、陈雷、胡宁、吴维丽、王瑞曾
起草单位
中国电子科技集团公司第五十五研究所
标准范围
本文件用于评价非气密封装固态器件在潮湿环境下的可靠性。
本方法为强加速试验，是在没有冷凝的条件下通过温度和湿度加速潮气穿透外部保护材料（包封或密封）或外部保护材料和金属导体的交接面。本方法不施加偏置，以确保潜在的失效机理不能由偏置造成（例如电化学腐蚀）。
本试验用于确定封装内部的失效机理，是一种破坏性试验。
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