标准编号：GB/Z 37664.3-2025
中文名称：纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分: 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命
英文名称：Nanomanufacturing—Key control characteristics—Luminescent nanomaterials—Part 3：Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC
发布日期：2025-12-03
实施日期：2025-12-03
提出单位：中国科学院
归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会
批准发布部门：中国科学院
起草人
刘祖刚、蔡培庆、赵飞、葛广路、郭海清、吕碧琪、刘忍肖、康永印、庞代文、朱小波、张振星
起草单位
深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司、国家纳米科学中心、杭州美联医学股份有限公司、北京北达聚邦科技有限公司、纳晶科技股份有限公司、中国计量大学、广纳珈源（广州）科技有限公司、复旦大学义乌研究院、南开大学、天美仪拓实验室设备（上海）有限公司
标准范围
本文件描述了使用时间相关单光子计数法（TCSPC）对半导体量子点（QDs）荧光寿命进行测量的方法，包括实验步骤、数据处理和测量示例。TCSPC适用于测量从皮秒到纳秒范围的荧光寿命。
本文件适用于QDs的稳定分散液，不适用于固体样品。
标准预览图
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