T/GITIF 029-2025 基于制造工艺的电子整机贮存失效机理模型及贮存可靠性评估技术指南

标准编号：T/GITIF 029-2025

中文名称：基于制造工艺的电子整机贮存失效机理模型及贮存可靠性评估技术指南

英文名称：Technical Guidelines for Storage Failure Mechanism Model and Storage Reliability Assessment of Electronic Subsystems Based on Manufacturing Processes

发布日期：2025-12-05

实施日期：2025-12-05

团体名称：广东省电子信息联合会

起草人

陈岑、翟国富、李锴、刘伟明、杨欣磊、郑博恺、郑媛、张东、付奕搏

起草单位

哈尔滨工业大学、工业和信息化部电子第五研究所、福州大学

标准范围

本文件提供了电子整机贮存可靠性评估程序的指导和建议，给出了电子整机贮存失效模式及失效机理分析、电子整机数字化模型、关键元器件贮存失效机理突变点识别、关键元器件加速贮存退化模型建立与验证、电子整机性能表征参数加速贮存退化模型建立与验证等步骤的详细求解流程。

本文件适用于武器装备、航天航空等领域中的典型电子整机贮存可靠性评估。本文件适用于在可靠性信息匮乏条件下电子整机的贮存可靠性评估。

标准预览图