标准编号：T/CSP 13-2024
中文名称：颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法
英文名称：Particulate technology—Analysis of sub-micron and nanometer heterostructure—Transmission electron microscopy
发布日期：2024-11-18
实施日期：2024-11-25
团体名称：中国颗粒学会
起草人
常怀秋;李婷;白露;杜志伟;齐笑迎;贾荣光;朱晓阳;韩小磊;车聪;高原;郎爽;毛璐;周素红
起草单位
国家纳米科学中心;国标（北京）检验认证有限公司;国合通用测试评价认证股份公司;北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京理化分析测试中心）;中国颗粒学会;北京粉体技术协会
标准范围
本文件描述了采用透射电子显微镜法对微纳米异质结构样品的形貌、成分及结构进行测量及分析的方法，包括原理、仪器设备、样品制备及步骤。
本文件适用于具有异质结构的微纳米尺度的粉体样品和薄膜样品，包含具有表面改性层、晶体界面层等微纳米异质结构材料的分析。
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